簡要描述：奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術(shù)進行制備；具有膜層厚度控制精確，厚度均勻，性能穩(wěn)定等優(yōu)點，元素純度可達99.9%以上；同時綜合ICP和XRF等檢測技術(shù)，可精確標定薄膜標樣的負載量。《HJ 830-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標樣。
產(chǎn)品型號： B36
所屬分類：實驗室耗材
更新時間：2025-04-27
奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術(shù)進行制備；具有膜層厚度控制精確，厚度均勻，性能穩(wěn)定等優(yōu)點，元素純度可達99.9%以上；同時綜合ICP和XRF等檢測技術(shù)，可精確標定薄膜標樣的負載量。
《HJ 830-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標樣建立儀器的工作曲線。
XRF薄膜標準樣品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五個負載量系列，其他負載量的產(chǎn)品可根據(jù)客戶實際需求定制。
可供應的XRF薄膜標準樣品的元素如下（可在表格內(nèi)打√選擇樣品）：
元素 | SL | VL | L | R | H | 元素 | SL | VL | L | R | H |
Na (NaCl) |
|
|
|
|
| Co |
|
|
|
|
|
Mg (MgF2) |
|
|
|
|
| Ni |
|
|
|
|
|
Al |
|
|
|
|
| Cu |
|
|
|
|
|
Si (SiO2) |
|
|
|
|
| Zn (ZnTe) |
|
|
|
|
|
P (GaP) |
|
|
|
|
| As (GaAs) |
|
|
|
|
|
S (CuSx) |
|
|
|
|
| Se |
|
|
|
|
|
Cl (NaCl) |
|
|
|
|
| Sr (SrF2) |
|
|
|
|
|
K (KCl) |
|
|
|
|
| Br (CsBr) |
|
|
|
|
|
Ca (CaF2) |
|
|
|
|
| Cd (CdSe) |
|
|
|
|
|
Sc (ScF3) |
|
|
|
|
| Ba (BaF2) |
|
|
|
|
|
Ti |
|
|
|
|
| Pb |
|
|
|
|
|
V |
|
|
|
|
| Sn |
|
|
|
|
|
Cr |
|
|
|
|
| Sb |
|
|
|
|
|
Mn |
|
|
|
|
| In |
|
|
|
|
|
Fe |
|
|
|
|
| Mo |
|
|
|
|
|
Ag |
|
|
|
|
| Hg (HgTe) |
|
|
|
|
|
可提供超純鋁杯用于XRF測定大氣顆粒物的輔助設備，用以消除或減小合金材料樣品杯對樣品結(jié)果的影響；采用*標準樣品研究所提供的湖南重金屬污染標準土壤樣品，參考NIST 2783標樣制備方式研制成功混合元素薄膜樣品，可用于XRF分析方法的驗證以及XRF實驗室日常質(zhì)控工作。
XRF薄膜標準樣品的安裝形式：
安裝環(huán)尺寸（厚度為1.5mm的亞克力玻璃）
代碼 | 外徑(mm) | 內(nèi)徑(mm) |
25 | 25 | 17 |
32 | 32 | 25 |
36 | 36 | 29 |
47 | 47 | 39 |
*36號尺寸。
方形：
50x50mm方形尺寸，內(nèi)置?32mm的圓環(huán)，代碼50。
支撐膜材料
代碼 | 支撐膜材料 | 備注 |
N | Nuclepore® polycarbonate | 氣溶膠多孔膜 |
M6.3 | 6.3μm厚度麥拉膜(Mylar) |
|
M3.5 | 3.5μm厚度麥拉膜(Mylar) |
|
M6.3型材料。
B |
A |
鍍膜方式：
代碼 | 鍍膜位置排列 |
A | 安裝環(huán)-元素膜-支撐膜 |
B | 元素膜-支撐膜-安裝環(huán) |
下一篇：WTF3000-L在線硬度分析儀
